校準

比較測量值時應至少考量哪些統計參數?

在比較測量值時,下列參數極為重要:算術平均值、標準差、單次測量數量。

若缺少相關的標準差和單次測量數量,就無法以有意義的方式來互相比較平均值。

為何需要校準?

每種實體測量法都會受塗層和基質等參數的影響, 這些參數包括:幾何零件、導電性、磁性、塗層密度、測量表面等.

每次這些塗層或基質參數有所變更時,皆必須重新校準測量儀器。 

我已在標準基材上校準我的測量儀器, 現在我想測量一個會轉動、小直徑的零件。我是否可以不經任何其他校準而繼續?

不,假如先前是在標準基材上校準,用於曲面後將發生系統性的測量錯誤。也就是說,測量值將過大。因為儀器會將其當作平面的樣本,來調整樣本 (轉動零件) 的測量訊號速率,所以會發生此問題。

為何會有兩個不同的測量結果?可能的原因為何?

測量儀器的準確度可透過校準標準加以確保。校準必須在實際無塗層的樣本上進行。此外,必須注意在相同的測量位置上測量。很重要的是,必須取得足夠的測量,才能得到有意義的平均值。

如何確認接觸式測量的校準?

若要檢查校準,可在無塗層的樣本上重新測量校準箔。其測量位置必須與之後的測量位置相同。Fischer 基本校準片不適用於此用途。

如何對 FISCHER X-Ray 儀器進行正常化?

正常化會對目前的設定或新基質進行測量工作調整。更換過主濾光鏡或陽極電流或準直器後,皆必須進行此工作。樣本的合金成分或基材發生變更時也需要進行此工作。

我的 FISCHER X-Ray 儀器似乎測量到讓人無法採信的數值。要如何確認我的測量是否正確?

您應選擇測量設備監控。您應重新測量校準標準,以檢查測量儀器。假如未達到正確的值,表示需要調整。

FISCHER X-Ray 儀器的參考測量有何作用?

參考測量為新的能量軸校準方式。它可用於對受溫度影響比例計算儀器進行校準。

如何檢查 FISCHER X-Ray 儀器是否校準?

若要檢查校準,必須進入「產品」、「測量校準標準」功能表選項,重新測量校準標準。如果發現誤差,則儀器需要重新校準。

FISCHER X-Ray 校準標準多久需要重新認證一次?

視使用情況而定,客戶可自行判斷。  一般情況為 1 至 3 年一次。

校正期間可堆疊 X 射線校準箔膜嗎?

是,可以。但有一項大致的使用規則:對於比例計算儀器,可用 2 至 3 片箔膜。對於配備 PIN/SDD 偵測器的儀器,可使用一張箔膜。

FISCHER X-Ray 儀器的純元素片需要重新認證嗎?

不需要。該片不需要重新認證,因為元素已達飽和厚度,相當穩定。

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