X 射線

如何對 FISCHER X-Ray 儀器進行正常化?

正常化會對目前的設定或新基質進行測量工作調整。更換過主濾光鏡或陽極電流或準直器後,皆必須進行此工作。樣本的合金成分或基材發生變更時也需要進行此工作。

我的 FISCHER X-Ray 儀器似乎測量到讓人無法採信的數值。要如何確認我的測量是否正確?

您應選擇測量設備監控。您應重新測量校準標準,以檢查測量儀器。假如未達到正確的值,表示需要調整。

FISCHER X-Ray 儀器的參考測量有何作用?

參考測量為新的能量軸校準方式。它可用於對受溫度影響比例計算儀器進行校準。

如何檢查 FISCHER X-Ray 儀器是否校準?

若要檢查校準,必須進入「產品」、「測量校準標準」功能表選項,重新測量校準標準。如果發現誤差,則儀器需要重新校準。

X 射線測量的測量點有多大?

測量點視準直器和測量距離而有所不同。一般值為:30 µm - 3mm。

FISCHER X-Ray 儀器是否有輻射保護?

我們多數儀器皆具備完整保護,通過德國 X 射線法令的設計審核。

X 射線法可測量哪些項目?

可測量最小原子數為 11 的元素以及厚度為 0.005 µm 至 60 µm 的塗層。視週圍媒介 (空氣、氦氣、真空)、偵測器、測量點的大小和原子數,當然還有應用而定。 

「參數匯出」遮罩是什麼意思?

匯出遮罩可用來定義要匯出的參數,以及傳送資料的時間與位置。測量資料接著將以文字檔的格式提供。

校正期間可堆疊 X 射線校準箔膜嗎?

是,可以。但有一項大致的使用規則:對於比例計算儀器,可用 2 至 3 片箔膜。對於配備 PIN/SDD 偵測器的儀器,可使用一張箔膜。

FISCHER X-Ray 儀器的純元素片需要重新認證嗎?

不需要。該片不需要重新認證,因為元素已達飽和厚度,相當穩定。

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