β 射線反向散射測量法

符合標準 DIN EN ISO 3543 與 ASTM B567a 的 β 射線背散射測量法。

Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.
Schematic diagram of the Beta-backscatter measuring method.

功能原理

同位素源釋放 β 射線 (電子)。其在穿透塗層工件的表面後,會與塗層和基質材料的原子相互作用。測量結果包含以蓋革米勒計數管偵測到的反向散射電子數。當塗層和基質材料的原子數 Z 相差至少為 Z = 5 時,塗層厚度就能以這種方法測得。

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