統計

多數測量都會受到隨機因素的影響。單一值無法描述測量實體真正的定量屬性。因此,需要進行重複測量並獲得多個單獨測量值。同時還需要用到統計方法,來對重複測量結果進行評估。

因此,可得出大量測量值的平均值和相應的方差。由此可計算出各值在平均值附近的分佈情況。通常,該分佈會形成高斯鐘形曲線 – 一種可應用於眾多技術工藝的曲線;該曲線會顯示基於測量值得到的可能的分佈情況。

但是,在多數塗層工藝中,都會出現不對稱的分佈情況。這種“對數正態分佈”是測量變數都為正值時的典型情況,自然界中的增長過程或塗層厚度情況均是如此。

通過統計分佈,能夠預測出整個過程中的塗層厚度 – 即無需 100% 監視即可評估該過程。

FISCHER 儀器會為我們的客戶執行這些統計計算。只需按下按鈕,我們的儀器就會通過記錄的測量值得出各種統計報告。

詳情請參閱
https://en.wikipedia.org/wiki/Normal_distribution
https://en.wikipedia.org/wiki/Log-normal_distribution

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