BETASCOPE

在所有 FISCHER 測量儀器中,BETASCOPE 提供最多的材料組合種類。透過部署 β 射線 (電子),BETASCOPE 不需要仰賴樣本的磁性或電子特性來測量塗層厚度。因此,它幾乎可測量任何基質類型上的任何類型層的塗層厚度,只要塗層與基質間的原子數相差至少為 5 即可。BETASCOPE 實作為 MMS PC2 通用測量系統的插入式模組,能夠與許多其他的測量技巧結合,同時還能利用 MMS PC2 的優點。

β 射線反向散射與傳輸

特性:

  • 利用 β 射線反向散射法進行非破壞性測量
  • 幾乎可測量任何塗層與基質組合
  • 不需任何特殊準備便能測量;測量僅需數秒
  • 測量不需任何化學物質或耗材
  • 測量符合 DIN EN ISO 3543 和 ASTM B567a 標準
  • 以 MMS PC2 通用測量系統的插入式模組實作
  • 提供多種輔助選項

應用領域:

  • 奈米塗層
  • 太陽能電池塗層
  • 單電鍍層
  • 任何基質類型上的有機塗層
  • 防腐蝕塗層,例如金屬生產與製程業所用的油
  • 箔片、紡織品、布料與其他有機材料

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