XDV-SDD

XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能最强大的X射線螢光儀器之一。它配備了特别加大的矽漂移接收器(SDD)。50mm²的接收器窗口確保能快速而精確的測量甚至是小面積的測量點。此外,儀器還配備了各種不同的濾片,從而能為不同的測量任務建立最優良的激發條件。

用於鍍層厚度測量和材料分析的XDV-SDD型儀器

特點:

  • 配備了高性能的X射線管和大窗口的矽漂移接收器(SDD),能準確的測量最薄的鍍層
  • 極耐用的設計結構,能以極出色的長期穩定性用於連續測量
  • 可編程XY平台和Z軸,用於自動化連續測量
  • 擁有即時的影像顯示和輔助雷射點,使得樣品定位變得快速而簡便

應用:

鍍層厚度測量

  • 測量極薄鍍層,如電子和半導體產業中厚度小於0.1um的Au和Pd鍍層
  • 測量汽車製造業中的硬質塗層
  • 光電產業中的鍍層厚度測量

材料分析

  • 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑑別
  • 分析黄金和其他貴金屬及其合金
  • 測定功能性鍍層的成份,如NiP鍍層中的P含量

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