X-RAY 5000

X-RAY 5000 系列儀器採用模組化設計,可讓您輕鬆地整合至生產線之中。例如,如果必須測量大型表面基質 (如錫板) 上的塗層,X-RAY 5000 絕對是您最佳的解決方案。視基底和塗層材料不同,可針對客戶的需求自訂 X 射線源、偵測器和主濾光鏡。

X-RAY 5000

特性

  • 可與生產系統連接,在製程運轉中持續進行測量
  • 應用彈性:可用於真空或大氣環境中溫度可達 400°C 的表面
  • 特別堅固的設計與構造,在嚴苛的條件下也有精準一致的測量結果
  • 非常適合對具有大型表面的產品進行塗層厚度測量和材料分析

應用:

塗層厚度測量

  • 測量太陽能產業中 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 塗層的厚度
  • 金屬帶、金屬箔和塑膠箔上僅有幾微米厚的薄薄的塗層

材料分析

  • 測量太陽光電產業中 CIGS、CIS、CdTe 和 CdS 塗層的成分
  • 持續生產程序的金屬塗層
  • 濺鍍和電鍍廠的程序監控

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